(18.08.2019) - Eine Anmerkung des Autors
Hallo alle! Es ist an der Zeit, über eine neue Version des STK nachzudenken... Ich habe einige Dinge, die ich gerne tun würde, aber ich möchte auch von denen hören, die das Tool verwenden. Wenn Sie etwas nicht sehen oder für verbesserungswürdig halten, schreiben Sie mir eine private Nachricht. Ich habe vor, den Kommentarbereich als Plausibilitätsprüfung durchzusehen, aber ich könnte etwas übersehen. Also, wenn es wichtig ist, schick mir eine private Nachricht.
DAS HALBLEITER-TOOLKIT (VERSION 2)
Das Semiconductor Toolkit ist ein Versuch, den Bedarf der Halbleiterindustrie an spezialisierten Visualisierungen und Reframings bestehender JMP-Funktionen zu decken.Bei seiner ersten Veröffentlichung enthielt das Toolkit Werkzeuge zum Generieren von gemusterten und ungemusterten Waferkarten, Kommentieren vorhandener Grafiken mit Wafergeometrie und ein halbleiterspezifisches Frontend für das hierarchische Clustering mit Option für räumliche Messungen. Es wurde nun um Analysemethoden zur Untersuchung von Die-Defektdaten, Vergleiche zwischen Wafern und eine Sammlung von Tools und Dienstprogrammen erweitert, die von der Benutzergemeinschaft beigesteuert wurden. Das Toolkit soll eine kollaborative und lebendige Anstrengung von interessierten Parteien sein.Konstruktive Kritik, Fehlerberichte und Vorschläge zu Fähigkeiten sind willkommen und erwünscht.
SYSTEM ANFORDERUNGEN
Das Add-In ist für Version 12 und neuer von JMP und JMP Pro.Das Add-In prüft, zu welcher Version von JMP es hinzugefügt wird, und zeigt nur die Methoden an, die in dieser Installation verfügbar sind.
AKTUALISIERUNG
- (2016-08-22) Version 1 freigegeben.
- (2016-11-03) Korrigierte Fehler gefunden von @ragnarl .
- (2016-10-14) Hinweis zur nächsten Version hinzugefügt, um dem Start der neuen Community-Site zu entsprechen
- (2016-09-26) Screenshots und Beschreibungen für jedes Tool hinzugefügt.
- (2017-11-01) Version 2 veröffentlicht. NUN, DAS DAUERT LÄNGER ALS ERWARTET...Es stellt eine vollständige Überarbeitung des Add-Ins dar. Eine Anzahl neuer Tools wurde hinzugefügt, einschließlich Tools zum Handhaben von Wafermaps für gemusterte Wafer und Verfahren zum Vergleichen von Wafermaps mit unterschiedlichen Abtastmustern. Unter der Haube wurde die Anwendung im JMP Application Builder komplett neu geschrieben. Ich habe auch viele der Methoden im ursprünglichen Add-In standardisiert, um eine konsistente Leistung auf allen Plattformen sicherzustellen. Ein richtiges Hilfehandbuch ist ebenfalls enthalten und wird erweitert, wenn es die Zeit erlaubt.
- (2018-02-15) Einige Fehler in der ersten Version behoben.
- (2018-02-23) Fehlerbehebung.
- (2019-09-24) Einige Fehler behoben (einer im Zusammenhang mit der Verwendung von JMP mit nicht-englischen Sprachen und ein Problem in Vorbereitung auf die Veröffentlichung von JMP 15).
- (2020-01-12) Der "yval"-Bug in der Schnellmuster-Kartenfunktion wurde behoben.
DIE WERKZEUGE
Anmerkungstool fügt Markierungen für die Wafer- und Ausschlusskanten zu einem bestehenden Diagramm oder einer Reihe von Diagrammen im selben Fenster hinzu.Ist die Werkzeuggeometrie bekannt, können auch Marker für das Werkzeuglayout hinzugefügt werden.
Mapping Tool Set > Gemusterte Wafer-Map verwendet Chip-Indizes und eine Antwortvariable, um eine gemusterte Waferkarte zu erzeugen. Die Plattform bietet auch zusammenfassende Statistikfunktionen für die Waferkarte.
Mapping-Tool-Set > Bare-Wafer-Map verwendet Koordinateninformationen und eine Antwortvariable, um eine Bare-Wafer-Karte zu erstellen.Das Tool gibt Auskunft über die Qualität des Fits für den verwendeten Glättungsalgorithmus.Das Tool unterstützt derzeit neuronale Netzwerkmodelle – einen Typ in JMP und zwei Typen in JMP Pro.
Mapping-Werkzeugsatz > Geometrie verwenden erstellt Shape-Dateien für JMP zur Verwendung in der Graph Builder-Plattform.Aufgrund der unterschiedlichen IT-Richtlinien werden die Dateien auf dem Desktop des Benutzers generiert, und es bleibt dem Benutzer überlassen, diese Dateien an die richtige Stelle im Dateisystem zu verschieben.Diese Positionen finden Sie auf Seite 308 im JMP 13-Buch „Essential Graphing“. Dieses Buch ist in der JMP-Installation enthalten und kann in JMP unter „Hilfe“ > „Bücher“ > „Essential Graphing“ gefunden werden.
Mapping Tool Set > Stepper Map verwenden erstellt Shape-Dateien für JMP zur Verwendung in der Graph Builder-Plattform wie beim Wafer Map Generator.Dieses Werkzeug verwendet eine Koordinatentabelle, um die Karte zu erstellen. Informationen zur Verwendung der generierten Dateien mit Graph Builder finden Sie wie beim Geometry Tool in der JMP-Dokumentation
Mapping-Tool-Set > Matrizen-Index verwenden verwendet eine Tabelle von Chip-Indizes, um ungefähre Wafer-Map-Shapefiles zu erzeugen. Informationen zur Verwendung der generierten Dateien mit Graph Builder finden Sie wie beim Geometry Tool in der JMP-Dokumentation.
Analyse-Toolset > Cluster-Defekte ist ein Frontend für die Hierarchical Clustering Platform mit der verwendeten Option räumliche Maße.Dieses Frontend fasst die allgemeinen Begriffe, die in der Hierarchical Clustering Platform verwendet werden, in Begriffe um, die der Halbleiterindustrie vertrauter sind.
Analyse-Toolset > Gemusterte Daten untersuchen generiert einen Bericht, der die Untersuchung von Klassierungs- und Testdaten unterstützt. Es bietet die gleichen zusammenfassenden Statistiken wie das Tool „Patterned Wafer Map“ mit zusätzlichen Drilldown-Funktionen.
Analyse-Toolset > Wafer-Maps vergleichen vergleicht zwei Waferkarten mit unterschiedlichen Abtastmustern, dh, verschiedene Produkte auf demselben Werkzeug oder Prozess.
Dienstprogramme-Toolbox > Tabellenlimits anhängen ist eine Portierung des Tools von @txnelson . Eine ausführliche Dokumentation zur Verwendung finden Sie hier hier .
