ドウから不良率をモデル化する方法こんにちは、不良率に対する何らかの要因の影響を確認するために実行された DOE の結果があります。 サンプル (500 部品) を分析し、さまざまな欠陥を数えました。 たとえば、欠陥 #1 = 40/500=0.08
データをモデル化したいと思いますが、私が行った調査から、ロジスティック回帰を使用してレート (0 と 1 の間) をモデル化する必要があると思います。 JMP16では、序数または名義のロジスティックを実行するオプションを提供しているかのように、それを行うことはできないようです。 では、レート データを予測するためにモデルを適合させる最良の方法は何でしょうか?
ありがとうございました
DOE
