詹保羅·波爾西內利
高級數據挖掘工程師
抽象的:
在 Silicon-Fab 中，會為每個矽晶圓收集多個電氣和功能測量值。
因此，在大量數據中確定哪些變量真正調節晶圓產量是非常重要的，這是最重要的關鍵性能指標。通常使用具有線性回歸擬合的散點圖。
無論如何，只有在分佈正常且沒有異常值和噪聲數據的情況下，這種技術才有效。 所有這些因素都可能掩蓋良率損失與生產線問題之間的真實關係。
