Gianpaolo Polsinelli
INGÉNIEUR SENIOR EN Exploitation De Données
Abstrait :
Dans une Silicon-Fab, plusieurs mesures électriques et fonctionnelles sont collectées pour chaque plaquette de silicium.
Il est donc très important d'identifier, dans une grande masse de données, quelles variables modulent réellement le rendement de la tranche et qui constituent l'indicateur clé de performance le plus important.Habituellement, un nuage de points avec un ajustement de régression linéaire est utilisé pour cela.
Quoi qu'il en soit, cette technique ne fonctionne bien que si les distributions sont normales, en l'absence de valeurs aberrantes et de bruit de données. Tous ces facteurs peuvent obscurcir la véritable relation entre la perte de rendement et les problèmes en ligne.
