詹保罗·波尔西内利
高级数据挖掘工程师
抽象的：
在 Silicon-Fab 中，每个硅晶圆都会收集几个电气和功能测量值。
因此，在大量数据中确定哪些变量真正影响了晶圆良率，这是最重要的关键性能指标，这一点非常重要。通常使用具有线性回归拟合的散点图。
无论如何，这种技术只有在分布正常、没有异常值和数据噪声的情况下才有效。 所有这些因素都可能掩盖产量损失和生产线问题之间的真实关系。
