Gianpaolo Polsinelli
INGÉNIEUR SÉNIOR EN MINAGE DE DONNÉES
Résumé :
Dans une Silicon-Fab, plusieurs mesures électriques et fonctionnelles sont collectées pour chaque tranche de silicium.
Il est donc très important d'identifier dans une grande masse de données quelles variables modulent réellement le rendement de la tranche l'indicateur de performance clé le plus important.Habituellement, un nuage de points avec un ajustement de régression linéaire est utilisé pour cela.
Quoi qu'il en soit, cette technique ne fonctionne bien que si les distributions sont normales, en l'absence de valeurs aberrantes et de données bruitées. Tous ces facteurs peuvent obscurcir la vraie relation entre la perte de rendement et les problèmes de ligne.
