Laura Lancaster, Principale Sviluppatore Statistico di Ricerca JMP, SAS
Annie Zangi, Sr. Research Statistico Developer, JMP
Le piattaforme di qualità e SPC in JMP 17 hanno molte nuove caratteristiche e capacità che rendono l'analisi della qualità più semplice ed efficace che mai. Le piattaforme di analisi dei sistemi di misura—Evaluating the Measurement Process (EMP) MSA e Variability Chart—sono state riorganizzate e migliorate ed è stata aggiunta una nuova piattaforma di Type 1 Gauge Analysis.L'utilità Manage Limits (precedentemente chiamata Manage Spec Limits) è stata generalizzata e ampliata per gestire molti tipi di limiti relativi alla qualità necessari per lavorare facilmente con molti processi in varie piattaforme di qualità.La piattaforma di distribuzione ha aggiunto la possibilità di adeguarsi ai limiti di rilevamento durante l'adattamento delle distribuzioni e l'esecuzione dell'analisi della capacità del processo.Control Chart Builder ha diverse nuove funzionalità tra cui un ruolo etichetta, una legenda di riga, un nuovo pulsante per passare da un grafico XBar/R a un grafico IMR, nuove opzioni di dialogo e Connect Thru Missing.Sia la carta di controllo EWMA che quella di Cusum hanno diverse nuove funzionalità tra cui la possibilità di salvare e leggere da un file di limiti e salvare informazioni aggiuntive nella tabella di riepilogo.
