Charles Chen, Master Black Belt, experto en mejora continua, materiales aplicados
Mason Chen, estudiante cinturón negro, OHS de la Universidad de Stanford
Patrick Giuliano, ingeniero de soporte técnico de JMP, JMP
Durante el período de calentamiento de la máquina, el proceso de fabricación puede ser inestable debido a causas imputables. Esta presentación analiza cómo se usaron varias plataformas y estadísticas de Poisson que se encuentran en JMP 16 para detectar los recuentos de defectos más altos.
Se utilizaron y compararon tanto el ajuste normal continuo como el ajuste de Poisson discreto para diferenciar los períodos de proceso estable e inestable.Es fundamental buscar los subgrupos racionales para separar las variaciones comunes y especiales.Se utilizaron tres plataformas en JMP 16 para buscar los subgrupos racionales:
- Análisis de series temporales y diagramas de retraso/autocorrelación para detectar los ciclos de conteo de defectos recurrentes.
- Análisis de conglomerados jerárquicos y gráficos de constelaciones para agrupar los períodos homogéneos.
- SPC del componente principal T-Square y la detección del punto de cambio para definir la subagrupación racional.
Las tres técnicas encontraron el mejor subgrupo racional de cada hora para detectar los patrones especiales de calentamiento de la máquina.Se realizaron siete tipos de gráficos de control diferentes en los datos de conteo de defectos.Solo los gráficos de control Shewhart Xbar-R y Poisson U (basados en subagrupaciones racionales de una hora) pudieron detectar con precisión las causas asignables de la primera hora. Esta subagrupación racional de una hora se utilizó en la capacidad del proceso para diferenciar Cp a corto plazo y Pp a largo plazo. Se usaron estadísticas de Poisson y aproximación normal para estimar más la capacidad del proceso Cp.Se utilizaron informes resumidos de la capacidad del proceso, gráfico de objetivos y gráfico de rendimiento para ayudar a visualizar la capacidad del proceso en diferentes subgrupos racionales.Después de eliminar esta causa de calentamiento, el límite de especificación superior del recuento de defectos se redujo en un 20 %.
