William Q. Meeker，爱荷华州立大学统计学特聘教授
Peng Liu，JMP 首席研究统计开发人员
退化数据分析用于评估许多不同类型产品的可靠性、故障时间分布或保质期分布，包括激光器、LED、电池以及化学和医药产品。 退化过程建模揭示了潜在的物理化学失效机制，为加速测试所需的外推提供了更好的理由。 此外，与事件发生时间数据相比，退化数据提供了更丰富的可靠性信息。 事实上，通过使用适当的退化数据，即使没有观察到故障，也可以做出可靠性推断。
然而，退化数据给建模和推理带来了特殊的挑战。 本演讲描述了 JMP 17 中新的重复测量退化平台，该平台使用最先进的贝叶斯分层建模来估计故障时间分布概率和分位数。 与其他现有方法相比，我们提出的方法在理论上具有更好的基础。 除了优点之外，贝叶斯方法确实带来了特殊的挑战，例如需要指定先验分布。 我们概述了我们对贝叶斯分析工作流程中这一重要步骤的建议。 在本次演讲中，我们将引导观众通过这种令人兴奋且具有挑战性的新方法，从理论到模型规范，最后是结果的解释。 演讲者以现场演示结束演讲。
