Laura Lancaster, JMP Principal Research Statistician Developer, SAS
Annie Zangi, statisticienne de recherche principale, JMP
Les plates-formes de qualité et SPC de JMP 17 disposent de nombreuses nouvelles fonctionnalités et capacités qui rendent l'analyse de la qualité plus facile et plus efficace que jamais. Les plates-formes d'analyse des systèmes de mesure - Evaluating the Measurement Process (EMP) MSA et Variability Chart - ont été réorganisées et améliorées et une nouvelle plate-forme d'analyse de jauge de type 1 a été ajoutée.L'utilitaire Gérer les limites (précédemment appelé Gérer les limites de spécification) a été généralisé et étendu pour gérer de nombreux types de limites liées à la qualité qui sont nécessaires pour travailler facilement avec de nombreux processus dans diverses plates-formes de qualité.La plate-forme de distribution a ajouté la possibilité d'ajuster les limites de détection lors de l'ajustement des distributions et de l'analyse de la capabilité des processus.Control Chart Builder a plusieurs nouvelles fonctionnalités, y compris un rôle d'étiquette, une légende de ligne, un nouveau bouton pour passer d'une carte XBar/R à une carte IMR, de nouvelles options de dialogue et Connect Thru Missing.Les cartes de contrôle EWMA et Cusum ont toutes deux de nouvelles fonctionnalités, notamment la possibilité d'enregistrer et de lire à partir d'un fichier de limites et d'enregistrer des informations supplémentaires dans le tableau récapitulatif.
