Laura Lancaster, JMP 수석 연구 통계 개발자, SAS
Annie Zangi, 선임 연구 통계 개발자, JMP
JMP 17의 품질 및 SPC 플랫폼에는 품질 분석을 그 어느 때보다 쉽고 효과적으로 만드는 많은 새로운 기능이 있습니다. 측정 시스템 분석 플랫폼인 EMP(측정 프로세스 평가) MSA 및 변동성 차트가 재구성 및 개선되었으며 새로운 유형 1 게이지 분석 플랫폼이 추가되었습니다.한계 관리 유틸리티(이전에는 사양 한계 관리라고 함)가 일반화 및 확장되어 다양한 품질 플랫폼의 많은 프로세스와 쉽게 작업하는 데 필요한 많은 유형의 품질 관련 한계를 처리합니다.분포 플랫폼에는 분포를 피팅하고 공정 능력 분석을 수행할 때 검출 한계를 조정하는 기능이 추가되었습니다.Control Chart Builder에는 레이블 역할, 행 범례, XBar/R 차트를 IMR 차트로 전환하는 새 버튼, 새 대화 상자 옵션 및 누락된 항목을 통해 연결을 비롯한 여러 가지 새로운 기능이 있습니다.EWMA 및 Cusum 제어 차트에는 모두 저장 및 제한 파일에서 읽기, 요약 테이블에 추가 정보 저장 기능을 포함하여 몇 가지 새로운 기능이 있습니다.
