William Q. Meeker 教授的专家见解（第四部分）在本系列的最后一篇文章中，我们将看到 JMP 首席数据科学家Chris Gotwalt对世界知名可靠性专家、爱荷华州立大学统计学教授兼文科杰出教授William Q. Meeker的采访的最后部分。 第一篇文章探讨了“主动可靠性”，以及机器学习、物联网和工业 4.0 如何对维护和可靠性提升产生影响。 第二篇文章探讨了统计学的交叉学科和基础贡献，以及统计学教育的演变。 第三篇文章探讨了贝叶斯方法日益增长的重要性。
此次采访是对比尔在2021年日本Discovery峰会上录制的全体会议演讲的补充。本博客系列收录了克里斯访谈的部分内容，旨在展现比尔对统计学的诸多贡献，以及他最近合著的两本著作：与Necip Doganaksoy和Gerald J. Hahn合著的《实现产品可靠性：商业成功的关键》 ；以及比尔与Luis A. Escobar和Francis G. Pascual合著的《可靠性数据的统计方法》第二版。我们很高兴推出《实现产品可靠性》的第一章。
我们与Bill进行了长期且卓有成效的合作，为JMP软件添加了新的可靠性分析方法。我们感谢他对统计学的诸多贡献，并与我们携手合作，将新的、更优的方法融入到JMP软件中，从而提高产品可靠性。
在第一个片段中，比尔透露了他撰写有关统计区间的书的动机。
在这里，比尔分享了他与 W. Edwards Deming 的一次有趣的交流。
您可以在JMP 社区观看整个采访，以及 Bill 于 2021 年 11 月在日本 Discovery 峰会上的全体会议演讲。
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, chats with Chris Gotwalt about his motivation to write this book.可靠性专家、爱荷华州立大学统计学教授、文科杰出教授 William Q. Meeker 与 Chris Gotwalt 聊了聊他写这本书的动机。
米克尔谈到了撰写一本关于统计区间的书以及他与 W. Edwards Deming 的交流。
预测模型和机器学习回复：William Q. Meeker 教授的专家见解，第 4 部分感谢 Deepak 和 Gail 分享这些链接。 比尔的贡献确实得到了广泛的利用，造福于许多人。
回复：William Q. Meeker 教授的专家见解，第 4 部分我记得 SAS 保修解决方案利用了 Wu-Meeker 论文中的很多发现。使用保修数据库中的信息及早发现可靠性问题
回复：William Q. Meeker 教授的专家见解，第 4 部分账单描述贝叶斯统计、贝叶斯方法的优势，包括在使用信息量小的非信息先验时，就像人们在评估可靠性时经常做的那样。他有趣的例子被收录在他的可靠性书的第一版中。他最近的 2021 年第 2 版可靠性数据的统计方法,包括更多贝叶斯例子。
