Approfondimenti del professor William Q. Meeker, parte 4Nell'ultimo post di questa serie, riportiamo gli ultimi spezzoni dell'intervista di Chris Gotwalt , Chief Data Scientist di JMP, con l'esperto di affidabilità di fama mondiale William Q. Meeker , Professore di Statistica e Professore Emerito di Lettere presso la Iowa State University. Il primo post ha toccato il tema dell'"affidabilità proattiva" e le implicazioni che machine learning, IoT e Industria 4.0 hanno per la manutenzione e il miglioramento dell'affidabilità. Il secondo post ha esplorato le discipline sovrapposte e i contributi fondamentali della statistica, nonché l'evoluzione della formazione statistica. Il terzo post ha esaminato la crescente importanza dei metodi bayesiani.
L'intervista integra il discorso plenario che Bill ha registrato per il Discovery Summit Japan 2021. Questa serie di blog presenta sezioni dell'intervista di Chris per mettere in luce i numerosi contributi di Bill alla statistica, nonché due recenti libri di cui è coautore: "Achieving Product Reliability: A Key to Business Success" , con Necip Doganaksoy e Gerald J. Hahn; e la seconda edizione di "Statistical Methods for Reliability Data" , di cui Bill è coautore con Luis A. Escobar e Francis G. Pascual . Siamo lieti di presentare il primo capitolo di "Achieving Product Reliability" .
Abbiamo avuto una lunga e proficua collaborazione con Bill, aggiungendo nuovi metodi per l'analisi dell'affidabilità al software JMP. Siamo grati per i suoi numerosi contributi alla statistica e per la sua collaborazione con noi nell'integrazione di metodi nuovi e migliori per una migliore affidabilità dei prodotti.
Nella prima clip, Bill rivela le motivazioni che lo hanno spinto a scrivere il libro sugli intervalli statistici.
Qui Bill condivide un interessante scambio di battute avuto con W. Edwards Deming.
Potete vedere l'intervista completa, nonché il discorso plenario di Bill al Discovery Summit Japan di novembre 2021, qui nella Community JMP.
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, chats with Chris Gotwalt about his motivation to write this book.L'esperto di affidabilità William Q. Meeker, professore di statistica e professore emerito di arti liberali presso l'Università statale dell'Iowa, chiacchiera con Chris Gotwalt sulle motivazioni che lo hanno spinto a scrivere questo libro.
Meeker parla della scrittura di un libro sugli intervalli statistici e di uno scambio di opinioni con W. Edwards Deming.
Modellazione predittiva e apprendimento automaticoRi: Opinioni degli esperti del professor William Q. Meeker, parte 4Grazie, Deepak e Gail, per aver condiviso questi link. I contributi di Bill sono stati effettivamente sfruttati in lungo e in largo a beneficio di molti.
Ri: Opinioni degli esperti del professor William Q. Meeker, parte 4Ricordo che la soluzione di garanzia SAS ha sfruttato molti dei risultati del documento Wu-Meeker.Rilevamento tempestivo di problemi di affidabilità utilizzando le informazioni dai database di garanzia
Ri: Opinioni degli esperti del professor William Q. Meeker, parte 4Bill descrive vantaggio delle statistiche bayesiane, metodi di Bayes, anche quando si utilizzano priori non informativi con una piccola quantità di informazioni, come spesso si fa quando si valuta l'affidabilità.Il suo interessante esempio è stato incluso nella prima edizione del suo libro Affidabilità.La sua recente edizione 2021 2 di Metodi statistici per i dati di affidabilità , include più esempi bayesiani.
