Experteneinblicke von Professor William Q. Meeker, Teil 4Im letzten Beitrag dieser Reihe sehen wir die letzten Auszüge aus dem Interview von JMP Chief Data Scientist Chris Gotwalt mit dem weltbekannten Zuverlässigkeitsexperten William Q. Meeker , Professor für Statistik und Distinguished Professor of Liberal Arts an der Iowa State University. Der erste Beitrag befasste sich mit „proaktiver Zuverlässigkeit“ und den Auswirkungen von maschinellem Lernen, IoT und Industrie 4.0 auf Wartung und verbesserte Zuverlässigkeit. Der zweite Beitrag untersuchte überlappende Disziplinen und grundlegende Beiträge der Statistik sowie die Entwicklung der Statistikausbildung. Der dritte Beitrag untersuchte die wachsende Bedeutung Bayesscher Methoden.
Das Interview ergänzte den Plenarvortrag, den Bill für den Discovery Summit Japan 2021 aufgezeichnet hatte. Diese Blogserie enthält Auszüge aus Chris' Interview, um Bills zahlreiche Beiträge zur Statistik sowie zwei seiner jüngsten Bücher, die er gemeinsam verfasst hat, zu beleuchten: „Achieving Product Reliability: A Key to Business Success“ (zusammen mit Necip Doganaksoy und Gerald J. Hahn) sowie die zweite Ausgabe von „Statistical Methods for Reliability Data“ , das Bill gemeinsam mit Luis A. Escobar und Francis G. Pascual verfasst hat . Wir freuen uns, Ihnen das erste Kapitel von „Achieving Product Reliability“ anbieten zu können.
Wir arbeiten seit langem und erfolgreich mit Bill zusammen und haben neue Methoden zur Zuverlässigkeitsanalyse in die JMP-Software integriert. Wir sind dankbar für seine zahlreichen Beiträge zur Statistik und die Zusammenarbeit mit uns, um neue und bessere Methoden zu integrieren und so die Produktzuverlässigkeit zu verbessern.
Im ersten Clip verrät Bill, warum er das Buch über statistische Intervalle geschrieben hat.
Hier erzählt Bill von einem interessanten Austausch, den er mit W. Edwards Deming hatte.
Das gesamte Interview sowie Bills Plenarvortrag auf dem Discovery Summit Japan vom November 2021 können Sie hier in der JMP-Community sehen.
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, chats with Chris Gotwalt about his motivation to write this book.Der Zuverlässigkeitsexperte William Q. Meeker, Professor für Statistik und angesehener Professor für Geisteswissenschaften an der Iowa State University, unterhält sich mit Chris Gotwalt über seine Motivation, dieses Buch zu schreiben.
Meeker spricht über das Schreiben eines Buches über statistische Intervalle und einen Austausch, den er mit W. Edwards Deming hatte.
Prädiktive Modellierung und maschinelles LernenRe: Experteneinblicke von Professor William Q. Meeker, Teil 4Danke, Deepak und Gail, für das Teilen dieser Links. Bills Beiträge wurden tatsächlich weit und breit zum Nutzen vieler eingesetzt.
Re: Experteneinblicke von Professor William Q. Meeker, Teil 4Ich erinnere mich, dass die SAS-Garantielösung viele Erkenntnisse aus dem Wu-Meeker-Papier genutzt hat.Früherkennung von Zuverlässigkeitsproblemen anhand von Informationen aus Garantiedatenbanken
Re: Experteneinblicke von Professor William Q. Meeker, Teil 4Bill beschreibt Vorteil der Bayes-Statistik, Bayes-Methoden, auch bei der Verwendung von nicht informativen Priors mit wenigen Informationen, wie dies häufig bei der Bewertung der Zuverlässigkeit der Fall ist.Sein interessantes Beispiel war in der ersten Ausgabe seines Zuverlässigkeitsbuchs enthalten.Seine jüngste Ausgabe 2021 2 von Statistische Methoden für Zuverlässigkeitsdaten , enthält weitere bayessche Beispiele.
