Les réflexions d'experts du professeur William Q. Meeker, partie 4Dans le dernier article de cette série, nous découvrons les derniers extraits de l'interview de Chris Gotwalt , responsable scientifique des données chez JMP, avec William Q. Meeker , expert en fiabilité de renommée mondiale et professeur de statistiques et professeur émérite de lettres et sciences humaines à l'Université d'État de l'Iowa. Le premier article abordait la « fiabilité proactive » et les implications de l'apprentissage automatique, de l'IoT et de l'Industrie 4.0 pour la maintenance et l'amélioration de la fiabilité. Le deuxième article explorait les chevauchements disciplinaires et les contributions fondamentales des statistiques, ainsi que l'évolution de l'enseignement des statistiques. Le troisième article examinait l'importance croissante des méthodes bayésiennes.
L'interview complétait la conférence plénière enregistrée par Bill pour le Discovery Summit Japan 2021. Cette série d'articles présente des extraits de l'interview de Chris afin de mettre en lumière les nombreuses contributions de Bill aux statistiques, ainsi que deux ouvrages récents dont il est co-auteur : « Achieving Product Reliability: A Key to Business Success » , avec Necip Doganaksoy et Gerald J. Hahn ; et la deuxième édition de « Statistical Methods for Reliability Data » , co-écrit par Bill avec Luis A. Escobar et Francis G. Pascual . Nous sommes heureux de vous présenter le premier chapitre d' « Achieving Product Reliability » .
Nous avons entretenu une longue et fructueuse collaboration avec Bill, intégrant de nouvelles méthodes d'analyse de fiabilité au logiciel JMP. Nous lui sommes reconnaissants pour ses nombreuses contributions aux statistiques et pour sa collaboration visant à intégrer de nouvelles méthodes plus performantes afin d'améliorer la fiabilité de nos produits.
Dans le premier extrait, Bill révèle sa motivation pour écrire le livre sur les intervalles statistiques.
Ici, Bill partage un échange intéressant qu'il a eu avec W. Edwards Deming.
Vous pouvez voir l'intégralité de l'interview, ainsi que la conférence plénière de Bill au Discovery Summit Japan de novembre 2021, ici dans la communauté JMP.
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, chats with Chris Gotwalt about his motivation to write this book.L'expert en fiabilité William Q. Meeker, professeur de statistiques et professeur émérite d'arts libéraux à l'Université d'État de l'Iowa, discute avec Chris Gotwalt de sa motivation à écrire ce livre.
Meeker parle de l'écriture d'un livre sur les intervalles statistiques et d'un échange qu'il a eu avec W. Edwards Deming.
Modélisation prédictive et apprentissage automatiqueRe : Points de vue d'experts du professeur William Q. Meeker, partie 4Merci, Deepak et Gail, pour le partage de ces liens. Les contributions de Bill ont en effet été largement exploitées au profit de beaucoup.
Re : Points de vue d'experts du professeur William Q. Meeker, partie 4Je me souviens que la solution de garantie SAS a tiré parti d'un grand nombre des conclusions de l'article Wu-Meeker.Détection précoce des problèmes de fiabilité à l'aide des informations des bases de données de garantie
Re : Points de vue d'experts du professeur William Q. Meeker, partie 4Bill décrit avantage des statistiques bayésiennes, méthodes bayésiennes, y compris lors de l'utilisation d'a priori non informatifs avec une petite quantité d'informations, comme on le fait souvent lors de l'évaluation de la fiabilité.Son exemple intéressant était et inclus dans la première édition de son livre Reliability.Sa récente édition 2021 2 de Méthodes statistiques pour les données de fiabilité , comprend plus d'exemples bayésiens.
