Jason Wiggins，JMP 高级系统工程师
Jerry Fish，高级系统工程师，JMP
我们大多数人都知道古老的表达方式，“Garbage In = Garbage Out”。当应用于我们用于测量生产线或实验室输出的系统时，此表达式至关重要。毕竟，如果我们不能充分衡量一个输出，那么我们怎么能期望控制或改进它呢？
测量系统分析 (MSA) 是一项练习，可以帮助我们了解当前的仪表性能以及在实验室、生产线等中使用仪表的设置策略。 它还可以帮助确定是否改进或更换仪表。由于它需要金钱和时间投资才能完成，因此本次演讲的重点是充分利用这项投资。
该演示超越了传统的量具 R&R 工具，展示了如何应用 GR&R 和 EMP 结果来可视化量具性能并建立正确使用量具的指南。 仪表性能曲线将作为可视化工具引入。 部署指南将包括 EMP 仪表评估和规格限制防护带。 背景故事、轶事、建议和警示故事基于数十年来开发和改进测量系统的经验（成功和失败）。包括对支持此扩展分析的新 JMP 插件的介绍。
