Re: 添加支持 Short Run SPC 的功能 - 狀態更改為：已確認@ChulHee_JMP - 謝謝你的建議！ 我們已經記錄了您的請求，並將予以考慮。
Re: 添加支持 Short Run SPC 的功能 - 狀態更改為：需要信息@ChulHee_JMP如果我們有一個更清楚地說明問題的示例，將會很有幫助。
您可以在控製圖生成器中使用階段，每個階段都可以有自己的控制限制。這是否滿足您描述的需求？
Re: 添加支持 Short Run SPC 的功能@SamGardner是的，用戶可以使用階段作為這種情況的替代和臨時解決方案。
在我看來，相位是一個非常合適的功能，用於識別用戶設置的相位之間是否存在任何均值和變化的差異。
但是，使用階段的假設之一是“一個過程（或單個群體）”。 在其他工作中，用戶通常希望他們的過程顯示階段之間沒有差異。 在許多情況下，發現差異是流程改進的機會之一，因為它可以使流程變得更好。
在應用短期SPC的情況下，由於產品的目標和規格不同，所以人群不同。 顯然，手段和變化量也不同。 一台機器每天或每周處理具有許多（10 到 100 多個）不同目標/規格的相同類型的產品。 用戶想要區分過程更改和產品更改之間的差異。 為了滿足需要，一些專家建議應用使用 Z 分佈的標準化方法。
- 供您參考：Minitab 為此提供了 Z-MR 圖。
Re: 添加支持 Short Run SPC 的功能 - 狀態更改為：正在調查中感謝您提供更多信息@ChulHee_JMP . 目前開發正在研究如何在JMP中實現。
添加支持Short Run SPC的功能最近，我發現許多來自電子元件製造商的客戶都在努力將控製圖應用到他們的流程中。 “S小批量生產和多種產品”是其流程的重要特徵，因此傳統的 Shewhart 控製圖並不適用。
如果 JMP 具有支持 Short Run SPC 的功能，對他們來說將非常有幫助。
http://www.qualitydigest.com/inside/statistics-column/short-run-spc-part-1-120219.html
質量與工藝工程
