Re: 添加支持 Short Run SPC 的功能 - 状态更改为：已确认@ChulHee_JMP - 谢谢你的建议！ 我们已经记录了您的请求，并将予以考虑。
Re: 添加支持 Short Run SPC 的功能 - 状态更改为：需要信息@ChulHee_JMP如果我们有一个更清楚地说明这个问题的例子，那将会很有帮助。
您可以在控制图生成器中使用阶段，每个阶段都可以有自己的控制限制。这是否满足您描述的需求？
Re: 添加支持 Short Run SPC 的功能@SamGardner是的，用户可以使用阶段作为这种情况的替代和临时解决方案。
在我看来，相位是一个非常合适的功能，用于识别用户设置的相位之间是否存在任何均值和变化的差异。
但是，使用阶段的假设之一是“一个过程（或单个群体）”。 在其他工作中，用户通常希望他们的过程显示阶段之间没有差异。 在许多情况下，发现差异是流程改进的机会之一，因为它可以使流程变得更好。
在应用短期SPC的情况下，由于产品的目标和规格不同，所以人群不同。 显然，手段和变化量也不同。 一台机器每天或每周处理具有许多（10 到 100 多个）不同目标/规格的相同类型的产品。 用户想要区分过程更改和产品更改之间的差异。 为了满足需要，一些专家建议应用使用 Z 分布的标准化方法。
- 供您参考：Minitab 为此提供了 Z-MR 图。
Re: 添加支持 Short Run SPC 的功能 - 状态更改为：正在调查中感谢您提供更多信息@ChulHee_JMP . 目前开发正在研究如何在JMP中实现。
添加支持Short Run SPC的功能最近，我发现许多来自电子元件制造商的客户都在努力将控制图应用到他们的流程中。 “S小批量生产和多种产品”是其流程的重要特征，因此传统的 Shewhart 控制图并不适用。
如果 JMP 具有支持 Short Run SPC 的功能，对他们来说将非常有帮助。
http://www.qualitydigest.com/inside/statistics-column/short-run-spc-part-1-120219.html
质量与工艺工程
