Ich möchte das Zuverlässigkeitswachstum von mehreren Systemen im Laufe der Zeit analysieren.Das Produkt wurde im Januar vorgestellt, insgesamt werden 85 Systeme produziert.Ich plane, Fehlerdaten von jedem System zu sammeln.Wie prognostiziere ich MTBF?Mir ist aufgefallen, dass die Reliability Growth-Plattform in JMP die Veränderung der Zuverlässigkeit eines einzelnen reparierbaren Systems im Laufe der Zeit modelliert, wenn Verbesserungen in sein Design integriert werden. Ein Zuverlässigkeitswachstums-Testprogramm versucht, die mittlere Zeit zwischen Ausfällen (MTBF) des Systems zu erhöhen, indem Konstruktionsverbesserungen integriert werden, wenn Ausfälle entdeckt werden.Gibt es eine Plattform, die MTBCF mit mehreren Systemen analysieren kann?
Reliability Growth unterstützt mehrere Systeme auf verschiedene Weise. Wenn Sie ein relativ aktuelles JMP haben, sollten Sie im Startdialog zwei Registerkarten für die Situation sehen:
Basierend auf Ihrer Beschreibung (Systemübergreifende Integration von Verbesserungen) ist Concurrent Systems für Ihren Fall konzipiert, jedoch mit einem speziellen Eingabedatenformat, und Sie finden ein Beispiel im Beispieldatenordner. Und wenn Ihre Daten so aussehen, sollten Sie diese Registerkarte verwenden.
Andernfalls müssen Sie möglicherweise Ihr kombiniertes Einzelsystem "zusammenbauen" und diese zusammengesetzten Daten analysieren. Ich bin mir nicht sicher, wie ich Ihre mehreren Systeme zu einem kombinierten "zusammenbauen" soll. Es hängt alles von Ihrem Eingabedatenformat ab. Aber die Hauptidee ist, bei jeder Veranstaltung kumulative Zeit zu erhalten. Im Folgenden sehen Sie beispielsweise den Screenshot der Datentabelle „Concurrent Systems.jmp“. Die ersten drei Spalten befinden sich in der ursprünglichen Datentabelle, die letzten beiden habe ich hinzugefügt, um zu veranschaulichen, wie ein kombiniertes System aussieht. Lassen Sie mich erklären, was hier passiert.
Die Originaldatentabelle speichert den Testprozess von zwei Systemen. Jede Zeile zeichnet ein Ereignis auf, entweder auf Prototyp 1 oder 2. Und beim Auftreten des Ereignisses zeichnet die erste Spalte die kumulative Laufzeit auf Prototype1 und die zweite Spalte die kumulative Laufzeit auf Prototype2 auf. Dann addiere ich einfach diese beiden Werte und erstelle Spalte 4, die die Gesamtlaufzeit beider Systeme darstellt, und markiere 1 Ereignis für diese Zeile in Spalte 5. Ich mache das bis zur letzten Reihe, wo das Experiment für beide Systeme endet und kein Ereignis. Also berechne ich die Gesamtlaufzeit, trage sie in Spalte 4 ein und zeichne die Ereignisanzahl 0 für diese Zeile in Spalte 5 auf.
Verwenden Sie nun die 4. und 5. Spalte als Daten aus einem einzelnen System und analysieren Sie sie. Das ist alles, was die Concurrent Systems unter der Haube tun.
Und wenn Ihre Eingabedaten nicht so aussehen, wie sie von Concurrent Systems unterstützt werden, müssen Sie einen Weg finden, Ihre mehreren Systeme zu einem einzigen System zusammenzufügen und dann das zusammengesetzte Einzelsystem zu analysieren.
