Je voudrais analyser la croissance de la fiabilité de plusieurs systèmes au fil du temps.Le produit a été introduit en janvier, un total de 85 systèmes seront produits.Je prévois de collecter les données de défaillance de chaque système.Comment prédire le MTBF ?J'ai remarqué que la plateforme Reliability Growth dans JMP modélise l'évolution de la fiabilité d'un seul système réparable au fil du temps, à mesure que des améliorations sont intégrées à sa conception. Un programme de tests de croissance de la fiabilité tente d'augmenter le temps moyen entre les pannes (MTBF) du système en intégrant des améliorations de conception à mesure que des pannes sont découvertes.Existe-t-il une plate-forme capable d'analyser le MTBCF à l'aide de plusieurs systèmes ?
Reliability Growth prend en charge plusieurs systèmes de plusieurs manières. Si vous disposez d'un JMP assez récent, vous devriez voir deux onglets dans la boîte de dialogue de lancement correspondant à la situation :
Sur la base de votre description (intégration des améliorations entre les systèmes), les systèmes concurrents sont conçus pour votre cas, mais avec un format de données d'entrée spécial, et vous pouvez trouver un exemple dans le dossier de données d'exemple. Et si vos données ressemblent à ceci, vous devez utiliser cet onglet.
Sinon, vous devrez peut-être « assembler » votre système unique combiné et analyser ces données assemblées. Je ne peux pas être sûr de savoir comment « assembler » vos multiples systèmes en un système combiné. Tout dépend du format de vos données d'entrée. Mais l’idée principale est d’obtenir un temps cumulé à chaque événement. Par exemple, voici la capture d'écran de la table de données « Concurrent Systems.jmp ». Les trois premières colonnes se trouvent dans le tableau de données d'origine, j'ai ajouté les deux dernières pour illustrer à quoi ressemble un système combiné. Laissez-moi vous expliquer ce qui se passe ici.
La table de données d'origine stocke le processus de test de deux systèmes. Chaque ligne enregistre un événement, soit sur le prototype 1, soit sur le prototype 2. Et lors de l'apparition de l'événement, la première colonne enregistre le temps d'exécution cumulé sur Prototype1 et la seconde enregistre le temps d'exécution cumulé sur Prototype2. Ensuite, j'ajoute simplement ces deux valeurs et crée la colonne 4, qui correspond à la durée d'exécution totale des deux systèmes, et marque 1 événement pour cette ligne dans la colonne 5. Je le fais jusqu'au bout, jusqu'à la dernière ligne, pour laquelle c'est la fin de l'expérience pour les deux systèmes et non un événement. Je calcule donc la durée totale d'exécution, la mets dans la colonne 4 et j'enregistre le nombre d'événements 0 pour cette ligne dans la colonne 5.
Utilisez maintenant les 4e et 5e colonnes comme données d’un seul système et analysez-les. C’est tout ce que font les systèmes concurrents sous le capot.
Et si vos données d'entrée ne ressemblent pas à celles prises en charge par Concurrent Systems, vous devez trouver un moyen d'assembler vos multiples systèmes en un seul, puis analyser le système unique assemblé.
