Im dritten Teil dieser Reihe werden Auszüge aus dem Interview von Chris Gotwalt, Chief Data Scientist bei JMP, mit dem preisgekrönten und vielfach publizierten Zuverlässigkeitsexperten William Q. Meeker , Professor für Statistik und Distinguished Professor of Liberal Arts an der Iowa State University, vorgestellt. Der erste Beitrag befasste sich mit „proaktiver Zuverlässigkeit“ und den Auswirkungen von maschinellem Lernen, IoT und Industrie 4.0 auf die Instandhaltung und die Verbesserung der Zuverlässigkeit. Der zweite Beitrag beleuchtete die Überschneidungen verschiedener Disziplinen und die grundlegenden Beiträge der Statistik sowie die Entwicklung der Statistiklehre.
Das Interview wurde zusammen mit Bills Plenarvortrag auf dem Discovery Summit Japan 2021 veröffentlicht. Diese Blogreihe präsentiert Ausschnitte aus Chris' Interview und beleuchtet Bills vielfältige Beiträge zur Statistik sowie zwei seiner kürzlich erschienenen Bücher: „Achieving Product Reliability: A Key to Business Success“ (mit Necip Doganaksoy und Gerald J. Hahn) und die zweite Auflage von „Statistical Methods for Reliability Data“ ( mit Luis A. Escobar und Francis G. Pascual ). Das erste Kapitel von „Achieving Product Reliability“ steht zum Download bereit.
Seit Jahren arbeiten die Entwickler bei JMP gerne mit Bill zusammen, um neue Methoden zur Zuverlässigkeitsanalyse in die JMP-Software zu integrieren. Die partnerschaftliche Zusammenarbeit mit Bill war sehr bereichernd und ermöglichte es uns, neue und verbesserte Methoden zur Steigerung der Produktzuverlässigkeit einzuführen.
Im ersten Clip spricht Bill über die wachsende Bedeutung Bayes'scher Methoden und die Szenarien, in denen ein Bayes'scher Ansatz gerechtfertigt ist. Er bietet faszinierende Einblicke in die sorgfältige Abwägung, die bei der Anwendung von A-priori-Wahrscheinlichkeiten erforderlich ist.
Anschließend spricht Bill darüber, wie Bayes'sche Methoden an Bedeutung gewinnen und rechentechnisch zugänglicher werden.
Im nächsten Beitrag enthüllt Bill seine Motivation für das Schreiben des Buches über statistische Intervalle sowie einen interessanten Austausch, den er mit W. Edwards Deming hatte.
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, and Chris Gotwalt ponder the growing importance of Bayesian methods.Der Zuverlässigkeitsexperte William Q. Meeker, Professor für Statistik und Distinguished Professor of Liberal Arts an der Iowa State University, und Chris Gotwalt diskutieren über die wachsende Bedeutung Bayes'scher Methoden.
Meeker erörtert die wachsende Bedeutung Bayes'scher Methoden und die Szenarien, in denen ein Bayes'scher Ansatz gerechtfertigt ist.
