Dans ce troisième volet de la série, nous présentons des extraits de l'entretien de Chris Gotwalt , responsable scientifique des données chez JMP, avec William Q. Meeker , expert en fiabilité reconnu et auteur de nombreuses publications, professeur de statistiques et professeur émérite de lettres à l'Université d'État de l'Iowa. Le premier article abordait la « fiabilité proactive » et l'impact de l'apprentissage automatique, de l'Internet des objets et de l'Industrie 4.0 sur la maintenance et l'amélioration de la fiabilité. Le deuxième article explorait les points communs entre les disciplines et les contributions fondamentales des statistiques, ainsi que l'évolution de l'enseignement des statistiques.
L'interview était associée à la conférence plénière enregistrée par Bill pour le Discovery Summit Japan 2021. Cette série d'articles de blog présente des extraits de l'interview de Chris afin de mettre en lumière les nombreuses contributions de Bill aux statistiques, ainsi que deux ouvrages récents qu'il a co-écrits : *Achieving Product Reliability: A Key to Business Success* , avec Necip Doganaksoy et Gerald J. Hahn ; et la deuxième édition de *Statistical Methods for Reliability Data* , co-écrite avec Luis A. Escobar et Francis G. Pascual . Vous pouvez télécharger le premier chapitre de *Achieving Product Reliability *.
Depuis des années, les développeurs de JMP collaborent avec enthousiasme avec Bill pour intégrer de nouvelles méthodes d'analyse de fiabilité au logiciel JMP . Cette collaboration fructueuse avec Bill, qui permet d'intégrer des méthodes nouvelles et plus performantes pour une meilleure fiabilité des produits, s'avère extrêmement enrichissante.
Dans le premier extrait, Bill aborde l'importance croissante des méthodes bayésiennes et les situations où une approche bayésienne se justifie. Il offre un éclairage fascinant sur le jugement éclairé nécessaire à l'application des distributions a priori.
Ensuite, Bill aborde la question de la popularité croissante des méthodes bayésiennes et de leur accessibilité accrue sur le plan informatique.
Dans le prochain article, Bill dévoilera ce qui l'a motivé à écrire ce livre sur les intervalles statistiques, ainsi qu'un échange intéressant qu'il a eu avec W. Edwards Deming.
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, and Chris Gotwalt ponder the growing importance of Bayesian methods.William Q. Meeker, expert en fiabilité, professeur de statistiques et professeur émérite d'arts libéraux à l'Université d'État de l'Iowa, et Chris Gotwalt s'interrogent sur l'importance croissante des méthodes bayésiennes.
Meeker aborde l'importance croissante des méthodes bayésiennes et les scénarios dans lesquels une approche bayésienne est justifiée.
