En la tercera entrega de la serie, esta publicación destaca fragmentos de la entrevista que Chris Gotwalt , Científico Jefe de Datos de JMP , realizó con William Q. Meeker , galardonado y ampliamente publicado experto en confiabilidad, profesor de Estadística y Profesor Distinguido de Artes Liberales en la Universidad Estatal de Iowa. La primera publicación abordó la "confiabilidad proactiva" y cómo el aprendizaje automático, el IoT y la Industria 4.0 tienen implicaciones para el mantenimiento y la mejora de la confiabilidad. La segunda publicación exploró las disciplinas que se superponen y las contribuciones fundamentales de la estadística, así como la evolución de la formación en estadística.
La entrevista se realizó en paralelo a la charla plenaria que Bill grabó para la Cumbre Discovery de Japón de 2021. Esta serie de blogs presenta fragmentos de la entrevista de Chris para destacar las numerosas contribuciones de Bill a la estadística, así como dos libros recientes de los que es coautor: "Lograr la fiabilidad del producto: una clave para el éxito empresarial" , con Necip Doganaksoy y Gerald J. Hahn; y la segunda edición de "Métodos estadísticos para datos de fiabilidad" , coautor de Bill con Luis A. Escobar y Francis G. Pascual . Puede descargar el primer capítulo de "Lograr la fiabilidad del producto" .
Durante años, los desarrolladores de JMP han colaborado con Bill para incorporar nuevos métodos de análisis de confiabilidad al software de JMP . Ha sido muy gratificante colaborar con Bill para incorporar métodos nuevos y mejorados que permitan una mayor confiabilidad del producto.
En el primer vídeo, Bill habla sobre la creciente importancia de los métodos bayesianos y los escenarios en los que se justifica un enfoque bayesiano. Bill ofrece perspectivas fascinantes sobre el juicio reflexivo que entra en juego al aplicar los valores a priori.
A continuación, Bill analiza cómo los métodos bayesianos están ganando cada vez más exposición y se están volviendo computacionalmente más accesibles.
En la siguiente publicación, Bill revela su motivación para escribir el libro sobre intervalos estadísticos, así como un interesante intercambio que tuvo con W. Edwards Deming.
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, and Chris Gotwalt ponder the growing importance of Bayesian methods.El experto en confiabilidad William Q. Meeker, profesor de Estadística y profesor distinguido de Artes Liberales en la Universidad Estatal de Iowa, y Chris Gotwalt reflexionan sobre la creciente importancia de los métodos bayesianos.
Meeker analiza la creciente importancia de los métodos bayesianos y los escenarios en los que se justifica un enfoque bayesiano.
