In der dritten Folge der Serie hebt dieser Beitrag Teile des Chief Data Scientist von JMP hervor Chris Gottwalt 's Interview mit preisgekröntem und vielfach publiziertem Zuverlässigkeitsexperten, William Q. Meeker , Professor für Statistik und Distinguished Professor of Liberal Arts an der Iowa State University. Das erster Beitrag ging auf „proaktive Zuverlässigkeit“ ein und wie sich maschinelles Lernen, IoT und Industrie 4.0 auf die Wartung und verbesserte Zuverlässigkeit auswirken. Das zweiter Beitrag untersuchte sich überschneidende Disziplinen und grundlegende Beiträge der Statistik sowie die Entwicklung der Statistikausbildung.
Das Interview wurde mit dem Plenarvortrag gepaart, den Bill für den Discovery Summit Japan 2021 aufgezeichnet hat. Diese Blog-Serie enthält Abschnitte aus Chris‘ Interview, um Bills viele Beiträge zur Statistik zu beleuchten, sowie zwei kürzlich erschienene Bücher, die er mitverfasst hat: Produktzuverlässigkeit erreichen: Ein Schlüssel zum Geschäftserfolg , mit Necip Doganaksoy und Gerald J. Hahn; und die zweite Auflage von Statistische Methoden für Zuverlässigkeitsdaten , das Bill gemeinsam mit Luis A. Escobar und Francis G. Pascual verfasst hat . Sie können die herunterladen erstes Kapitel von Produktzuverlässigkeit erreichen .
Seit Jahren arbeiten Entwickler bei JMP gerne mit Bill zusammen, um neue Methoden für die Zuverlässigkeitsanalyse hinzuzufügen JMP-Software . Es war sehr lohnend, diese kooperative Beziehung mit Bill zu haben, um neue und bessere Methoden zu integrieren, um eine bessere Produktzuverlässigkeit zu ermöglichen.
Im ersten Clip spricht Bill über die wachsende Bedeutung bayesianischer Methoden und die Szenarien, in denen ein bayesianischer Ansatz gerechtfertigt ist. Bill bietet faszinierende Einblicke in das durchdachte Urteilsvermögen, das bei der Anwendung von Priors ins Spiel kommt.
Als Nächstes diskutiert Bill Bayes'sche Methoden, die mehr Bekanntheit erlangen und rechnerisch zugänglicher werden.
Im nächsten Beitrag enthüllt Bill seine Motivation, das Buch über statistische Intervalle zu schreiben, sowie einen interessanten Austausch, den er mit W. Edwards Deming hatte.
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, and Chris Gotwalt ponder the growing importance of Bayesian methods.Der Zuverlässigkeitsexperte William Q. Meeker, Professor für Statistik und Distinguished Professor of Liberal Arts an der Iowa State University, und Chris Gotwalt denken über die wachsende Bedeutung bayesischer Methoden nach.
Meeker diskutiert die wachsende Bedeutung bayesianischer Methoden und die Szenarien, in denen ein bayesianischer Ansatz gerechtfertigt ist.