Dies ist der zweite Blogbeitrag einer Reihe, die Auszüge aus dem Interview von JMP Chief Data Scientist Chris Gotwalt mit dem preisgekrönten und vielfach publizierten Zuverlässigkeitsexperten William Q. Meeker , Professor für Statistik und Distinguished Professor of Liberal Arts an der Iowa State University, beleuchtet. Der erste Beitrag befasste sich mit „proaktiver Zuverlässigkeit“ und den Auswirkungen von maschinellem Lernen, IoT und Industrie 4.0 auf Wartung und verbesserte Zuverlässigkeit.
Das Interview ergänzte Bills Plenarvortrag auf dem Discovery Summit Japan 2021. Diese Blogserie enthält Auszüge aus Chris' Interview, um Bills zahlreiche Beiträge zur Statistik sowie zwei seiner jüngsten Bücher vorzustellen: „Achieving Product Reliability: A Key to Business Success“ (gemeinsam mit Necip Doganaksoy und Gerald J. Hahn) und die zweite Ausgabe von „Statistical Methods for Reliability Data“ , die Bill gemeinsam mit Luis A. Escobar und Francis G. Pascual verfasst hat . Sie können das erste Kapitel von „Achieving Product Reliability“ herunterladen.
Chris hat über die Jahre eng mit Bill zusammengearbeitet, um neue Methoden zur Zuverlässigkeitsanalyse in die JMP-Software zu integrieren. Wir sind dankbar für die Zusammenarbeit mit Bill, die uns zu einer besseren Produktzuverlässigkeit verhilft.
In diesem ersten Clip geht Bill darauf ein, wie sich die Entstehung der Datenwissenschaft und anderer Disziplinen mit der Statistik überschneidet. Er erklärt, warum die Statistik im Mittelpunkt der Disziplinen steht, die Daten verstehen wollen, und wie viele statistische Konzepte grundlegende Beiträge dazu leisten.
Im nächsten Clip prognostiziert Bill die wahrscheinliche Entwicklung der Statistikausbildung – von den neuen Methoden, die behandelt werden müssen, bis hin zu älteren Materialien, die möglicherweise nicht mehr so relevant sind.
Im nächsten Beitrag befasst sich Bill mit der Bedeutung Bayesscher Methoden und ihrer zunehmenden Verwendung.
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, reflects on statistics and stat education with Chris Gotwalt.Der Zuverlässigkeitsexperte William Q. Meeker, Professor für Statistik und Distinguished Professor of Liberal Arts an der Iowa State University, denkt mit Chris Gotwalt über Statistik und Statistikausbildung nach.
„Statistik ist der Kern von Disziplinen, die versuchen, Daten zu verstehen“, sagt Prof. Meeker in seinem Interview mit Chris Gotwalt von JMP.
