William Q. Meeker 教授的專家見解（第二部分）這是系列部落格文章的第二篇，重點介紹了 JMP 首席資料科學家Chris Gotwalt對屢獲殊榮、著述頗豐的可靠性專家William Q. Meeker （愛荷華州立大學統計學教授兼文科傑出教授）的訪談內容。 第一篇部落格文章探討了“主動可靠性”，以及機器學習、物聯網和工業 4.0 如何對維護和可靠性提升產生影響。
此次訪談是對比爾在2021年日本Discovery峰會全體會議演講的補充。本部落格系列收錄了克里斯的訪談片段，分享了比爾對統計學的諸多貢獻，以及他最近合著的兩本著作：與Necip Doganaksoy和Gerald J. Hahn合著的《實現產品可靠性：商業成功的關鍵》 ；以及比爾與Luis A. Escobar和Francis G. Pascual合著的《可靠性數據的統計方法》第二版。您可以下載《實現產品可靠性》的第一章。
多年來，Chris 與 Bill 密切合作，將新的可靠性分析方法融入JMP 軟體。我們非常榮幸能與 Bill 建立合作關係，共同提升產品可靠性。
在第一個片段中，比爾考慮到資料科學和其他學科的出現如何與統計學重疊，解釋了統計學如何成為尋求理解資料的學科的核心，以及有多少統計概念是基礎性貢獻。
在下一個片段中，比爾預測了統計教育可能的演變——從需要涵蓋的新方法到可能不再相關的舊材料。
在下一篇文章中，比爾將深入探討貝葉斯方法的重要性及其日益廣泛的應用。
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, reflects on statistics and stat education with Chris Gotwalt.可靠性專家、愛荷華州立大學統計學教授兼文科傑出教授 William Q. Meeker 與 Chris Gotwalt 一起反思統計學和統計教育。
米克爾教授在接受 JMP 的 Chris Gotwalt 採訪時表示，統計學是尋求理解數據的學科的核心。
可靠度分析
