William Q. Meeker 教授的专家见解（第二部分）这是系列博客文章的第二篇，重点介绍了 JMP 首席数据科学家Chris Gotwalt对屡获殊荣、著述颇丰的可靠性专家William Q. Meeker （爱荷华州立大学统计学教授兼文科杰出教授）的采访内容。 第一篇博客文章探讨了“主动可靠性”，以及机器学习、物联网和工业 4.0 如何对维护和可靠性提升产生影响。
此次采访是对比尔在2021年日本Discovery峰会全体会议演讲的补充。本博客系列收录了克里斯的访谈片段，分享了比尔对统计学的诸多贡献，以及他最近合著的两本著作：与Necip Doganaksoy和Gerald J. Hahn合著的《实现产品可靠性：商业成功的关键》 ；以及比尔与Luis A. Escobar和Francis G. Pascual合著的《可靠性数据的统计方法》第二版。您可以下载《实现产品可靠性》的第一章。
多年来，Chris 与 Bill 密切合作，将新的可靠性分析方法融入JMP 软件。我们非常荣幸能与 Bill 建立合作关系，共同提升产品可靠性。
在第一个片段中，比尔考虑到数据科学和其他学科的出现如何与统计学重叠，解释了统计学如何成为寻求理解数据的学科的核心，以及有多少统计概念是基础性贡献。
在下一个片段中，比尔预测了统计教育可能的演变——从需要涵盖的新方法到可能不再相关的旧材料。
在下一篇文章中，比尔将深入探讨贝叶斯方法的重要性及其日益广泛的应用。
Reliability expert William Q. Meeker, Professor of Statistics and Distinguished Professor of Liberal Arts at Iowa State University, reflects on statistics and stat education with Chris Gotwalt.可靠性专家、爱荷华州立大学统计学教授兼文科杰出教授 William Q. Meeker 与 Chris Gotwalt 一起反思统计学和统计教育。
米克尔教授在接受 JMP 的 Chris Gotwalt 采访时表示，统计学是寻求理解数据的学科的核心。
可靠性分析
