Il s'agit du deuxième article de blog d'une série qui met en lumière des parties du Chief Data Scientist de JMP Chris Gotwal c'est entretien avec un expert en fiabilité primé et largement publié William Q.Meeker , professeur de statistique et professeur émérite d'arts libéraux à l'Iowa State University. Le premier poste abordé la "fiabilité proactive" et comment l'apprentissage automatique, l'IoT et l'industrie 4.0 ont des implications pour la maintenance et l'amélioration de la fiabilité.
L'interview a complété la conférence plénière de Bill au Discovery Summit Japan 2021. Cette série de blogs présente des sections de l'interview de Chris pour partager les nombreuses contributions de Bill aux statistiques, ainsi que deux livres récents qu'il a co-écrits : Atteindre la fiabilité des produits : la clé du succès de l'entreprise , avec Necip Doganaksoy et Gerald J. Hahn ; et la deuxième édition de Méthodes statistiques pour les données de fiabilité , que Bill a co-écrit avec Luis A. Escobar et Francis G. Pascual . Vous pouvez télécharger le premier chapitre de Atteindre la fiabilité du produit .
Chris a travaillé en étroite collaboration avec Bill au fil des ans pour intégrer de nouvelles méthodes d'analyse de fiabilité dans Logiciel JMP . Nous sommes reconnaissants d'avoir cette relation de collaboration avec Bill pour permettre une meilleure fiabilité du produit.
Dans ce premier clip, tenant compte de la façon dont l'émergence de la science des données et d'autres disciplines se chevauchent avec les statistiques, Bill explique comment les statistiques sont au cœur des disciplines cherchant à donner un sens aux données et combien de concepts statistiques sont des contributions fondamentales.
Dans le clip suivant, Bill prédit l'évolution probable de l'enseignement des statistiques - des nouvelles méthodes qui devront être couvertes aux anciens matériaux qui pourraient ne plus être aussi pertinents.
Dans le billet suivant, Bill se penche sur l'importance des méthodes bayésiennes et leur utilisation croissante.
