现场网络研讨会
使用晶圆图和动态可视化探索您的数据
日期： 5 月 10 日，星期二
时间：美国东部时间下午 12:00 - 下午 1:00（MT 上午 10:00 - 上午 11:00）
地点：在线（缩放）
登记：自由
JMP 软件帮助一些世界上最大和最具创新性的半导体公司在竞争激烈的市场中取得成功。
半导体网络研讨会系列将向您展示如何以更可预测的方式以更低的成本加速您的开发时间表——所有这些都无需编写一行代码。
在本课程中，您将学习如何：
- 使用 Graph Builder 获取晶圆图和图形数据摘要。
- 一次分析一个变量的分布。
- 用 X 拟合 Y 以比较两个变量。
- Partition + Fit Model：探索多个变量之间的关系。
谁该参加：
半导体行业的工艺工程师、产量提升工程师、研发工程师、工程经理、数据科学家、质量工程师、测试工程师、测试技术人员、计量学家和制造工程师。
https://www.jmp.com/en_us/events/live-webinars/industries/semiconductor/explore-your-data-with-wafer-maps-and-dynamic-visualization.html
