現場網絡研討會
使用晶圓圖和動態可視化探索您的數據
日期： 5 月 10 日，星期二
時間：美國東部時間下午 12:00 - 下午 1:00（MT 上午 10:00 - 上午 11:00）
地點：在線（縮放）
登記：自由
JMP 軟件幫助一些世界上最大和最具創新性的半導體公司在競爭激烈的市場中取得成功。
半導體網絡研討會系列將向您展示如何以更可預測的方式以更低的成本加速您的開發時間表——所有這些都無需編寫一行代碼。
在本課程中，您將學習如何：
- 使用 Graph Builder 獲取晶圓圖和圖形數據摘要。
- 一次分析一個變量的分佈。
- 用 X 擬合 Y 以比較兩個變量。
- Partition + Fit Model：探索多個變量之間的關係。
誰該參加：
半導體行業的工藝工程師、產量提升工程師、研發工程師、工程經理、數據科學家、質量工程師、測試工程師、測試技術人員、計量學家和製造工程師。
https://www.jmp.com/en_us/events/live-webinars/industries/semiconductor/explore-your-data-with-wafer-maps-and-dynamic-visualization.html
