Untersuchen Sie Ihre Daten mit Waferkarten und dynamischer Visualisierung
Datum: Dienstag, 10. Mai
Zeit: 12:00 - 13:00 Uhr ET (10:00 - 11:00 Uhr MT)
Standort: Online (Zoom)
Anmeldung: Frei
JMP-Software hilft einigen der weltweit größten und innovativsten Halbleiterunternehmen, in einem hart umkämpften Markt erfolgreich zu sein.
Die Halbleiter-Webinar-Reihe zeigt Ihnen, wie Sie Ihre Entwicklungszeiten beschleunigen, vorhersehbarer und zu geringeren Kosten – und das alles, ohne eine Zeile Code schreiben zu müssen.
In dieser Sitzung lernen Sie, wie Sie:
- Verwenden Sie Graph Builder für Waferkarten und grafische Zusammenfassungen von Daten.
- Verteilung zum Analysieren jeweils einer Variablen.
- Passen Sie Y an X an, um zwei Variablen zu vergleichen.
- Partition + Fit Model: Untersuchen Sie die Beziehung zwischen mehreren Variablen.
Wer sollte teilnehmen:
Prozessingenieure, Ertragssteigerungsingenieure, F&E-Ingenieure, technische Manager, Datenwissenschaftler, Qualitätsingenieure, Testingenieure, Testtechniker, Messtechniker und Fertigungsingenieure in der Halbleiterindustrie.
