基於亞組的CPK分析-s-chart & R-chart專家您好，
我正在根據 AIAG 指南對我們的流程進行一些 Cpk 計算方法驗證。
一些背景知識，我最初運行 300 個樣本以使用 JMP 設定基線 - Cpk 計算是使用 I-MR（基於分佈時的能力分析）。
我們的生產線使用 x-bar 和 R-chart，n=10，共 14 個批次（有 1 個批次異常值）。
這意味著，我們使用 Excel（包括 Cpk）監控每個批次的生產樣品 10 次測量和 SPC 圖表。
我想向他們展示，他們應該按照 AIAG 指南使用 x-bar 和 s-chart，以及如果他們使用 s-chart 會發生什麼，或者如果過程穩定，Cpk 會是多少。
當我使用 JMP 運行具有子組 ID 的資料時，計算出的 Cpk 是基於 I-MR（下圖）：
由於 R 圖、s 圖或 MR 僅用作標準。 dev 估計（使用公式 R-bar/d2），如何配置 JMP 以在需要時使用 R 或 s 計算能力分析？
p/s：我不太相信Cpk 方法是正確的這一論點，因為根據我們自己的流程場景/解釋，所有方法都是正確的（SPC 是改進的冠軍），但AIAG 將其納入他們的指南中，所以我需要知道如何使用 R 或 s 與 JMP 計算能力分析...
非常感謝任何提示，我使用 JMP 15。
品質和工藝工程回覆：基於子組的 CPK 分析 - s-chart 和 R-chart您可以使用流程能力平台。以下是一些程式碼，展示瞭如何建立能力分析，其中 sigma 內部透過無偏標準差的平均值進行估計。
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
Process Capability(
Process Variables( :NPN1[:wafer] ),
Within Subgroup Variation( Average of Unbiased Standard Deviations ),
Individual Detail Reports( 1 ),
Capability Box Plots( 1 ),
Goal Plot( 1 ),
Capability Index Plot( 1 ),
Process Performance Plot( 0 )
);
