基於子組的 CPK 分析 - s-chart & R-chart您好專家，
我正在對我們的流程與 AIAG 指南進行一些 Cpk 計算方法驗證。
一些背景知識，我最初運行 300 個樣本以使用 JMP 設置基線 - 計算的 Cpk 使用 I-MR（基於分佈的能力分析）。
我們的生產線使用 x-bar 和 R-chart 表示 n=10 共 14 批（有 1 批異常值）。
意味著，我們使用 Excel 監控每個批次和 SPC 圖表的生產樣品 10 測量值，包括 Cpk。
我想向他們展示他們應該按照 AIAG 指南使用 x-bar 和 s-chart 以及如果他們使用 s-chart 會發生什麼，或者如果流程穩定，Cpk 會是什麼。
當我使用 JMP 運行具有子組 ID 的數據時，計算的 Cpk 是基於 I-MR（下圖）：
由於 R-chart、s-chart 或 MR 僅用作標準。開發估計（使用公式 R-bar/d2），如何配置 JMP 以在需要時使用 R 或 s 計算能力分析？
p/s：我真的不贊成這種關於哪種 Cpk 方法是正確的論點，因為所有方法都基於我們自己的流程場景/解釋是正確的（SPC 是進行改進的冠軍）但 AIAG 將其放在他們的指導方針中，所以我需要知道如何使用 R 或 s 和 JMP 計算能力分析.....
非常感謝任何提示，我使用 JMP 15。
分析回复：基於子組的 CPK 分析 - s-chart & R-chart您可以使用過程能力平台。這是一些代碼，顯示瞭如何創建能力分析，其中 sigma 內的值由無偏標準偏差的平均值估計。
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
Process Capability(
Process Variables( :NPN1[:wafer] ),
Within Subgroup Variation( Average of Unbiased Standard Deviations ),
Individual Detail Reports( 1 ),
Capability Box Plots( 1 ),
Goal Plot( 1 ),
Capability Index Plot( 1 ),
Process Performance Plot( 0 )
);
