Hola expertos,
Estoy haciendo una validación del método de cálculo de Cpk para nuestro proceso en comparación con las pautas de AIAG.
Algunos antecedentes, inicialmente ejecuté 300 muestras para configurar una línea de base usando JMP: el Cpk calculado está usando I-MR (basado en el análisis de capacidad en la distribución).
Nuestra línea de producción utiliza la barra X y el gráfico R para n = 10 para 14 lotes (con 1 lote atípico).
Significa que nuestra muestra de producción 10 mediciones para cada lote y gráfico SPC se monitoreó utilizando Excel, incluido el Cpk.
Quiero mostrarles que deben usar x-bar y s-chart según las pautas de AIAG y qué sucederá si usan s-chart o cuál sería el Cpk si el proceso es estable.
Cuando ejecuté los datos con ID de subgrupo usando JMP, el Cpk calculado se basa en I-MR (foto a continuación):
Dado que R-chart, s-chart o MR solo se usan como estándar. estimaciones de desarrollo (usando la fórmula R-bar/d2), ¿cómo puedo configurar JMP para calcular el análisis de capacidad usando R o s cuando lo desee?
p/s: Realmente no estoy de acuerdo con este argumento sobre qué método Cpk es correcto porque todos los métodos son correctos según nuestro propio escenario/interpretación del proceso (SPC es el campeón para hacer mejoras), pero AIAG lo puso en sus pautas, entonces Necesito saber como calcular el analisis de capacidad usando R o s con JMP.....
Cualquier consejo es muy apreciado y uso JMP 15.
Puede utilizar la plataforma Process Capability.Aquí hay un código que muestra cómo crear un análisis de capacidad donde dentro de sigma se estima por el promedio de desviaciones estándar imparciales.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
Process Capability(
Process Variables( :NPN1[:wafer] ),
Within Subgroup Variation( Average of Unbiased Standard Deviations ),
Individual Detail Reports( 1 ),
Capability Box Plots( 1 ),
Goal Plot( 1 ),
Capability Index Plot( 1 ),
Process Performance Plot( 0 )
);
