Hallo Experten,
Ich führe eine Validierung der Cpk-Berechnungsmethoden für unseren Prozess im Vergleich zu den AIAG-Richtlinien durch.
Einige Hintergrundinformationen: Ich führe zunächst 300 Proben durch, um eine Basislinie mit JMP einzurichten - der berechnete Cpk wird mit I-MR berechnet (basierend auf der Fähigkeitsanalyse bei der Verteilung).
Unsere Produktionslinie verwendet x-bar & R-Chart für n=10 für 14 Chargen (mit 1 Chargenausreißer).
Das bedeutet, dass die Messung unserer Produktionsprobe 10 für jede Charge und jedes SPC-Diagramm mit Excel einschließlich des Cpk überwacht wurde.
Ich möchte ihnen zeigen, dass sie X-Bar & S-Chart gemäß den AIAG-Richtlinien verwenden sollten und was passieren wird, wenn sie S-Chart verwenden, oder wie hoch der Cpk wäre, wenn der Prozess stabil ist.
Als ich die Daten mit Untergruppen-ID mit JMP verarbeitete, basiert der berechnete Cpk auf I-MR (Foto unten):
Da R-Karte, S-Karte oder MR nur als Standard verwendet werden. dev-Schätzungen (unter Verwendung der Formel R-bar/d2), wie kann ich JMP so konfigurieren, dass die Prozessfähigkeitsanalyse mit R oder s berechnet wird, wenn ich möchte?
p/s: Ich glaube nicht wirklich an dieses Argument, welche Cpk-Methode richtig ist, weil alle Methoden basierend auf unserem eigenen Prozessszenario/Interpretation korrekt sind (SPC ist der Meister für Verbesserungen), aber die AIAG hat es in ihre Richtlinien aufgenommen, also Ich muss wissen, wie man die Fähigkeitsanalyse mit R oder s mit JMP berechnet .....
Alle Tipps sind sehr willkommen und ich verwende JMP 15.
Sie können die Process Capability-Plattform verwenden.Hier ist ein Code, der zeigt, wie eine Prozessfähigkeitsanalyse erstellt wird, bei der innerhalb von Sigma durch den Durchschnitt der unverzerrten Standardabweichungen geschätzt wird.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
Process Capability(
Process Variables( :NPN1[:wafer] ),
Within Subgroup Variation( Average of Unbiased Standard Deviations ),
Individual Detail Reports( 1 ),
Capability Box Plots( 1 ),
Goal Plot( 1 ),
Capability Index Plot( 1 ),
Process Performance Plot( 0 )
);
