Ciao Esperti,
Sto eseguendo una convalida del metodo di calcolo Cpk per il nostro processo rispetto alle linee guida AIAG.
Alcuni precedenti, inizialmente eseguo 300 campioni per impostare una linea di base utilizzando JMP - Cpk calcolato utilizza I-MR (basato sull'analisi della capacità alla distribuzione).
La nostra linea di produzione utilizza x-bar e R-chart per n=10 per 14 lotti (con 1 lotto anomalo).
Significa che la nostra misurazione del campione di produzione 10 per ogni lotto e grafico SPC è stata monitorata utilizzando Excel, incluso il Cpk.
Voglio mostrare loro che dovrebbero x-bar & s-chart secondo le linee guida AIAG e cosa accadrà se usano s-chart o quale sarebbe il Cpk se il processo fosse stabile.
Quando ho eseguito i dati con l'ID del sottogruppo utilizzando JMP, il Cpk calcolato si basa su I-MR (foto sotto):
Poiché R-chart, s-chart o MR vengono utilizzati solo come std. dev stime (usando la formula R-bar/d2), come posso configurare JMP per calcolare l'analisi della capacità usando R o s quando voglio?
p/s: non credo proprio a questo argomento su quale metodo Cpk sia corretto perché tutti i metodi sono corretti in base al nostro scenario/interpretazione del processo (SPC è il campione per apportare miglioramenti) ma AIAG lo ha inserito nelle loro linee guida, quindi Ho bisogno di sapere come calcolare l'analisi della capacità usando R o s con JMP .....
Tutti i suggerimenti sono molto apprezzati e io uso JMP 15.
È possibile utilizzare la piattaforma Process Capability.Ecco del codice che mostra come creare un'analisi della capacità in cui all'interno di sigma viene stimata la media di deviazioni standard imparziali.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
Process Capability(
Process Variables( :NPN1[:wafer] ),
Within Subgroup Variation( Average of Unbiased Standard Deviations ),
Individual Detail Reports( 1 ),
Capability Box Plots( 1 ),
Goal Plot( 1 ),
Capability Index Plot( 1 ),
Process Performance Plot( 0 )
);
