結合 EMP 和儀表 R&R 功能我們的高級客戶之一 Seagate 多年來一直要求這樣做。我們已經與他們合作開發了儀表板解決方案，但他們確實希望將其嵌入到產品中。許多其他客戶（戈爾和康寧）告訴我們，他們喜歡這兩種 MSA 技術的各個方面。客戶喜歡 EMP 中提供的有效分辨率和位移檢測分析器，以及 Gauge R&R 中的 P/T 比和錯誤分類概率。擁有這種組合功能將使我們在質量領域比 Minitab 更具優勢，而這通常是 Minitab 與 JMP 競爭的領域。
以下是客戶願望清單請求的鏈接，其中包含更多詳細信息：
結合 EMP 和儀表 R&R 功能
統計與分析回复：合併 EMP 和儀表 R&R 功能 - 狀態更改為：已確認回复：結合 EMP 和儀表 R&R 功能我們也收到了來自戈爾日本公司的同樣要求。 他們說他們看了 JMP 17，但理想情況下，他們想要一個組合平台。
回复：結合 EMP 和儀表 R&R 功能從教學的角度來看，將用戶發送到兩個平台來實現 MSA 所需的內容充其量是令人困惑的。我們教他們始終進行這兩種分析，因為他們無法從其中獲得所需的所有答案。在兩者中進行方差分量時具有挑戰性，因為有時方差圖會切換計算它們的方法。因此，要獲得相同的方差分量，您必須在單擊“確定”之前告訴 Variability 在分析設置中使用 REML。
我們還需要一種設計具有適當隨機化的 MSA 的方法。DOE 平台完全隨機化，而 MSA 需要嵌套或更受控制的隨機化方法。 我們提供了一個腳本和一個插件來執行此操作，但它應該是內置的。
