結合 EMP 和 Gauge R&R 功能我們的一個 Premier 帳戶 Seagate 多年來一直要求提供此服務。我們已經與他們合作開發了儀表板解決方法，但他們確實希望將其嵌入到產品中。許多其他客戶（戈爾和康寧）告訴我們，他們喜歡這兩種 MSA 技術的各個方面。客戶喜歡 EMP 中提供的有效分辨率和偏移檢測分析器以及 Gauge R&R 中的 P/T 比和錯誤分類概率。擁有這一組合功能將使我們在質量領域比 Minitab 更具優勢，這通常是 Minitab 與 JMP 競爭的領域。
這是客戶願望清單請求的鏈接，其中包含更多詳細信息：
結合 EMP 和 Gauge R&R 功能
統計和分析回复：結合 EMP 和 Gauge R&R 功能從教學的角度來看，將用戶發送到兩個平台以實現他們對 MSA 的需求充其量是令人困惑的。我們教他們始終進行兩種分析，因為他們無法從一個分析中獲得所需的所有答案。在兩者中進行方差分量時具有挑戰性，因為有時方差圖會切換計算它們的方法。因此，要獲得相同的方差分量，您必須在單擊確定之前告訴 Variability 在分析設置中使用 REML。
我們還需要一種設計具有適當隨機化的 MSA 的方法。DOE 平台完全隨機化，MSA 需要嵌套的或更受控的隨機化方法。 我們提供了一個腳本和一個插件來執行此操作，但它應該是內置的。
