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Analisi dei dati funzionali per le superfici (usando due X invece di una sola)

La richiesta è di avere la possibilità di utilizzare due variabili x per la piattaforma funzionale di esplorazione dei dati.Dovresti avere forme di base invece di funzioni per mappare una superficie.Potrebbe essere troppo impegnativo dal punto di vista computazionale, ma penso che sarebbe molto popolare.Un'applicazione di esempio sta esaminando i parametri di deposizione in un'applicazione di rivestimento per semiconduttori per vedere come influiscono sulla morfologia della superficie.

 

Ho sentito questa richiesta da Exxon, Micron, Intel e P&G.

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combinando questo con https://community.jmp.com/t5/Internal-Wish-List/FDE-for-two-dimensional-data/idi-p/691394