结合 EMP 和 Gauge R&R 功能多年来，我们的一个 Premier 帐户 Seagate 一直要求提供此服务。我们已经与他们合作开发了仪表板解决方法，但他们确实希望将其嵌入到产品中。许多其他客户（戈尔和康宁）告诉我们他们喜欢这两种 MSA 技术的各个方面。客户喜欢 EMP 中提供的有效分辨率和偏移检测分析器以及 Gauge R&R 中的 P/T 比和错误分类概率。拥有这一组合功能将使我们在质量领域比 Minitab 更具优势，这通常是 Minitab 与 JMP 竞争的领域。
以下是客户愿望清单请求的链接，其中包含更多详细信息：
结合 EMP 和 Gauge R&R 功能
统计和分析回复：结合 EMP 和 Gauge R&R 功能从教学的角度来看，将用户发送到两个平台以实现他们对 MSA 的需求充其量是令人困惑的。我们教他们始终进行两种分析，因为他们无法从一个分析中获得所需的所有答案。在两者中进行方差分量时具有挑战性，因为有时方差图会切换计算它们的方法。因此，要获得相同的方差分量，您必须在单击确定之前告诉 Variability 在分析设置中使用 REML。
我们还需要一种设计具有适当随机性的 MSA 的方法。DOE 平台完全随机化，MSA 需要嵌套的或更受控的随机化方法。 我们提供了一个脚本和一个插件来执行此操作，但它应该是内置的。
回复：结合 EMP 和 Gauge R&R 功能我们从戈尔日本公司收到了同样的要求。 他们说他们看过 JMP 17，但理想情况下，他们想要一个组合平台。
