Graph Builder 中二項式分佈的置信區間（並通過 X 擬合 Y）JMP 的分佈平台可以計算二項分佈的置信區間（例如通過/失敗）。但是，當您想獲得跨另一個分類因素的概率 CI 時，Fit Y by X 和 Graph Builder 平台沒有提供這些值的選項。在您想查看不同類別變量的產量是否在統計上不同的情況下（例如，不同批次/晶圓的產量在統計上是否較低），此功能將特別有用。如果圖形構建器可以在另一個分類列（例如 Lot/Wafer）上繪製一列通過/失敗值並將通過概率（即產量）顯示為標記，置信區間線穿過標記，那就太好了.這將允許用戶在漂亮的 Graph Builder 視覺效果中輕鬆識別哪些類別級別的收益率在統計上較低。也可以對 Fit Y by X 進行類似的視圖。
在過去，我不得不在 Distribution with a By variable 中執行此操作，打開置信區間，然後右鍵單擊 CI 表並製作組合數據表，然後從該表中繪製結果，這是一個笨重的過程，尤其是對於那些不熟悉 JMP 中這些選項的人。
圖形
