La piattaforma di distribuzione di JMP può fornire un calcolo dell'intervallo di confidenza di una distribuzione binomiale (es. pass/fail).Ma quando si desidera ottenere CI delle probabilità su un altro fattore categoriale, le piattaforme Fit Y by X e Graph Builder non hanno la possibilità di fornire questi valori.Questa funzionalità sarebbe particolarmente utile in situazioni in cui si desidera vedere se le rese sono statisticamente diverse tra le variabili categoriali (ad es. se lotti/wafer diversi hanno rese statisticamente inferiori).Sarebbe bello se il costruttore di grafici potesse tracciare una colonna di valori pass/fail su un'altra colonna categoriale (es. Lot/Wafer) e mostrare la probabilità di pass (es. yield) come indicatore con una linea dell'intervallo di confidenza che attraversa il marker .Ciò consentirebbe all'utente di identificare facilmente quali livelli di categoria hanno rendimenti statisticamente inferiori in un bel grafico di Generatore di grafici.Una vista simile potrebbe essere eseguita anche per Fit Y di X.
In passato ho dovuto farlo in Distribution con una variabile By, attivare gli intervalli di confidenza, quindi fare clic con il pulsante destro del mouse sulla tabella CI e Crea tabella di dati combinati, quindi tracciare i risultati di quella tabella che è un processo goffo, in particolare per coloro che non hanno familiarità con queste opzioni in JMP.
