聚類變量平台改進剛結束與客戶 (Nvidia) 的通話，在通話過程中提出了這個想法。客戶詢問如何使用 JMP 來識別具有相似測試結果（通過/失敗）的測試。數據表是許多測試作為列，不同的 GPU 芯片作為行進行測試，對於給定測試，通過/失敗指示器為 0/1。
向客戶展示了集群變量平台，這讓他們非常興奮，因為它完全符合他們的要求，即。識別具有相似結果的測試，以便他們可以在不影響質量的情況下刪除冗餘測試並減少測試時間。然而，有幾個關鍵特性可以使該平台更適用於此類應用程序。
1. 該平台需要允許您從集群中取消對成員的分組，並重新計算“集群解釋的變異比例”指標。例如，您應該能夠右鍵單擊 Cluster Members 報告來執行此操作。您可能希望對在其分配的集群中具有弱相關性的列執行此操作。對於上面的應用程序，這意味著在半導體芯片測試流程中將具有弱相關性的測試保留在它們的集群中。
2. 您應該能夠為“聚類解釋的變異比例”指標定義目標值，JMP 將計算實現該目標所需的最小聚類數，並為您提供 POVEBC 與聚類計數的關係圖。這將幫助測試工程師確定需要進行多少次測試才能捕獲一定比例的所有故障。
統計與分析回复：集群變量平台改進@mzwald ,
我喜歡這個主意。 這同樣適用於 PCA。
我認為對於 1，您可以對一個或多個成員使用排除，看看是否有幫助。
