級別：中級
【主持人】
傑森威金斯，老 系統工程師，JMP，SAS Institute Inc.
【公告摘要】
測量系統無處不在，從家庭到實驗室再到生產現場。例如，家庭有熟悉的秤，實驗室使用各種系統來測量重要的物理特性，例如材料強度。生產系統還依賴於測量質量特性，例如加工零件的形狀。
另一方面，我們所接觸的測量系統以多種方式運行。它可以是嘈雜的、準確的或有偏見的。它可能會也可能不會改變或破壞樣品。
不管它的行為如何，我們都需要對測量系統噪聲有很好的了解，並就如何使用測量系統來避免代價高昂的錯誤做出明智的選擇。
回顧過去，90 年代初，哈勃太空望遠鏡的主鏡因測量誤差而過度拋光。這個錯誤，在啟動後發現，幾乎毀了這個項目。如果 NASA 在發射前使用 MSA 來了解和解決變異的原因，它本可以節省超過 6 億美元的維修成本。
在本演講中，我們將解釋在通過唐納德惠勒博士開發的 EMP（評估測量過程）方法應用 MSA 結果時需要注意的要點。此外，我們將介紹 EMP 的概述和家庭和工業中的示例，並在 JMP 上演示 EMP 對儀表的分類、報告的準確性以及保護頻帶的規格限制，以確保產品兼容性。
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