레벨: 중급
【발표자】
Jason Wiggins, Sr. Systems Engineer, JMP, SAS Institute Inc.
【발표 개요】
가정에서 연구실, 생산 현장에 이르기까지 계측 시스템은 곳곳에 있습니다. 예를 들어, 가정에는 익숙한 체중계가 있으며 실험실에서는 재료 강도와 같은 중요한 물리적 특성을 측정하기 위해 다양한 시스템이 사용됩니다. 또한 생산 시스템은 가공된 부품의 형상과 같은 품질 특성의 측정에 의존합니다.
한편, 우리가 접하고있는 측정 시스템은 다양한 동작을합니다. 노이즈가 많은 경우도 있고, 정확한 경우도 있고, 편향이 있는 경우도 있습니다. 또, 샘플을 변화시키거나 파괴하는 경우도 있고, 그렇지 않은 경우도 있습니다.
어떤 작업을 하든 관계없이 측정 시스템의 노이즈에 대한 지식이 풍부하고 비용이 많이 드는 오류를 피하기 위해 측정 시스템의 사용법에 대한 충분한 정보를 얻고 선택합니다. 필요합니다.
되돌아보면 90년대 초, 허블 우주망원경의 주경이 측정 실수로 너무 연마된 적이 있었습니다. 발사 후 발각한 이 실수에 의해, 프로젝트는 거의 좌절해 버렸습니다. 발사 전에 MSA를 사용하여 편차의 원인을 이해하고 대처했다면 NASA가 수리 비용을 6억 달러 이상 절약할 수 있었을 것입니다.
본 발표에서는 Donald Wheeler 박사가 개발한 EMP(Evaluating the Measurement Process) 기법에 의한 MSA 결과를 적용할 때의 주의점을 설명합니다. 또한 EMP의 개요와 가정이나 산업계에서의 사례를 소개하고, EMP에 의한 게이지의 분류, 보고의 정밀도, 제품의 적합성을 확보하기 위한 가드 밴드의 사양 제한 등을 JMP로 시연합니다.
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