밀과 왕겨: JMP의 스크리닝 실험
프로세스의 결과에 영향을 미치는 잠재적인 요소가 많을 때 중요한 몇 가지 영향력 있는 요소를 찾아야 합니다. 이 항목에서는 JMP의 DOE 및 선별 플랫폼을 통해 중요한 요소를 쉽게 발견할 수 있는 방법을 보여줍니다. JMP 최종 선별 설계 플랫폼과 그래픽 설계 진단 방법을 사용하여 기존 선별 설계보다 적은 수의 시행으로 더 많은 정보를 산출하는 방법을 알아보십시오.
언어: 영어 | (提供中文交流问答)
발표자: Kim Hui Lim(林鑫辉), JMP 글로벌 기술 지원 엔지니어
지원: Julianna Zhou(周暘), JMP 선임 학술 대사
