级别：中级
【主持人】
杰森威金斯，老 系统工程师，JMP，SAS Institute Inc.
【公告摘要】
测量系统无处不在，从家庭到实验室再到生产现场。例如，家庭有熟悉的秤，实验室使用各种系统来测量重要的物理特性，例如材料强度。生产系统还依赖于测量质量特性，例如加工零件的形状。
另一方面，我们所接触的测量系统以多种方式运行。它可以是嘈杂的、准确的或有偏见的。它可能会也可能不会改变或破坏样品。
不管它的行为如何，我们都需要对测量系统噪声有很好的了解，并就如何使用测量系统来避免代价高昂的错误做出明智的选择。
回顾过去，90 年代初，哈勃太空望远镜的主镜因测量误差而过度抛光。这个错误，在启动后发现，几乎毁了这个项目。如果 NASA 在发射前使用 MSA 来了解和解决变异的原因，它本可以节省超过 6 亿美元的维修成本。
在本演讲中，我们将解释在通过唐纳德惠勒博士开发的 EMP（评估测量过程）方法应用 MSA 结果时需要注意的要点。此外，我们将介绍 EMP 的概述和家庭和工业中的示例，并在 JMP 上演示 EMP 对仪表的分类、报告的准确性以及保护频带的规格限制，以确保产品兼容性。
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