Joo Yong-han, Universidad Sunmoon
Actualmente, varios componentes de la fábrica inteligente se están aplicando activamente en la industria manufacturera. En este flujo, se han publicado muchos ejemplos excelentes de acaricidas que aplican diversos datos de proceso a modelos de análisis de big data. Sin embargo, el modelo de análisis de big data tiene dificultades para popularizarse debido a limitaciones como la enorme asignación de recursos, el tiempo de aprendizaje relativamente largo y el ajuste por parte de los expertos. En este estudio, nos gustaría proponer un Explorador de datos funcional que puede analizar datos de seguimiento de varios procesos y equipos. Esta técnica puede modelar los datos recopilados en función de la función base y, como resultado, devuelve un valor funcional. El análisis se realizó con base en un sensor de cámara semiconductora, y se confirmó que hubo un mejor efecto en la detección de anomalías con base en estadísticas básicas como media y desviación. Se espera que la conveniencia del análisis de datos en tiempo real se mejore a través de la técnica de análisis de este estudio.
