合理分组是将数据组织成在相同/相似操作条件下产生的组的过程。 JMP 16.1中的过程筛选平台添加了几个新的子组功能，使该分析更加灵活且用户友好。
- 您现在可以指定多个子组列。
- 具有子组角色的单个图表和移动极差图表现在会创建一个包含示例标签列的详细信息表。
- 添加了一个选项，使您可以灵活地按子组列排序或不排序。
要查看这些新功能的示例，请打开示例数据文件夹中的 Semiconductor Capability.jmp。
dt=open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
多个子组列和样本标签列
选择分析->筛选->过程筛选。指定 NPN1 作为过程变量。对于子组，指定lot_id 和晶圆。
在以前的版本中，仅允许一个子组列进行过程筛选。从 JMP 16.1 开始，可以为过程筛选分析定义多个子组列。单击“确定”。
从红色小三角中，选择保存详细信息表。除了子组列之外，该表还包含所有子组变量的列：lot_id 和晶圆。在以前的版本中，仅创建了一个子组列。详细信息表中没有lot_id 和wafer 的识别信息。
按子组排序
选择分析->筛选->过程筛选。指定 NPN1 作为过程变量。将晶圆指定为子组。将控制图类型设置为 XBar 和 R。
请注意左下角的新复选框“按子组排序”。默认情况下，未选中此框，这意味着不会对数据进行排序。
单击“确定”。从报告顶部的红色小三角中，选择保存详细信息表。
我们看到第一个子组对应于wafer=1。第25子组也对应于晶圆=1。这是因为 Process Screening 没有对数据进行排序。如果您回顾原始数据表，您将看到类似的排列，其中第 1-5 行的晶圆=1，第 121-125 行的晶圆=1。
让我们将其与检查对话框中的“按子组排序”框进行比较。选择原始的半导体能力数据表。选择分析->筛选->过程筛选。单击“调用”。您应该看到与之前所示相同的对话框。在此对话框中，选中左下角的“按子组排序”框，然后单击“确定”。
现在，当您选择“保存详细信息表”时，您会发现 NPN1 列的晶圆 1 只有 1 个子组。
比较 Process Screening 结果，您会发现给定的统计数据根据所使用的排序选项而有所不同。有理子组定义了如何实施分析。
结论
JMP 16.1 在子组变量方面提供了更大的灵活性。
- 可以定义多个子组变量。
- 具有子组变量的 IMR 图表中的明细表包含每个子组变量的子组标签列。
- 新的“按子组排序”命令确定平台是否在分析之前对数据进行排序。
