合理分組是將資料組織成在相同/相似操作條件下產生的群組的過程。 JMP 16.1中的流程篩選平台新增了幾個新的子群組功能，使此分析更加靈活且使用者友好。
- 現在您可以指定多個子組列。
- 具有子組角色的單一圖表和移動極差圖表現在會建立一個包含範例標籤列的詳細資訊表。
- 新增了一個選項，可讓您靈活地按子組列排序或不排序。
若要查看這些新功能的範例，請開啟範例資料資料夾中的 Semiconductor Capability.jmp。
dt=open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
多個子組列和樣本標籤列
選擇分析->篩選->過程篩選。指定 NPN1 為製程變數。對於子組，指定lot_id 和晶圓。
在先前的版本中，僅允許一個子組列進行過程篩選。從 JMP 16.1 開始，可以為流程篩選分析定義多個子群組列。按一下“確定”。
從紅色小三角中，選擇儲存詳細資料表。除了子組列之外，該表還包含所有子組變數的列：lot_id 和晶圓。在先前的版本中，僅建立了一個子組列。詳細資料表中沒有lot_id 和wafer 的識別資訊。
按子組排序
選擇分析->篩選->過程篩選。指定 NPN1 為製程變數。將晶圓指定為子組。將控制圖類型設定為 XBar 和 R。
請注意左下角的新複選框“按子組排序”。預設情況下，未選取此框，這表示不會對資料進行排序。
按一下“確定”。從報告頂部的紅色小三角中，選擇儲存詳細資料表。
我們看到第一個子組對應於wafer=1。第25子組也對應於晶圓=1。這是因為 Process Screening 沒有對資料進行排序。如果您回顧原始資料表，您將看到類似的排列，其中第 1-5 行的晶圓=1，第 121-125 行的晶圓=1。
讓我們將其與檢查對話方塊中的「按子組排序」方塊進行比較。選擇原始的半導體能力資料表。選擇分析->篩選->過程篩選。按一下“調用”。您應該會看到與之前所示相同的對話框。在此對話框中，選取左下角的「按子組排序」框，然後按一下「確定」。
現在，當您選擇「儲存詳細資料表」時，您會發現 NPN1 列的晶圓 1 只有 1 個子組。
比較 Process Screening 結果，您會發現給定的統計數據根據所使用的排序選項而有所不同。有理子組定義如何實施分析。
結論
JMP 16.1 在子組變數方面提供了更大的彈性。
- 可以定義多個子組變數。
- 具有子組變數的 IMR 圖表中的明細表包含每個子組變數的子組標籤列。
- 新的「按子組排序」指令可確定平台是否在分析之前對資料進行排序。
